Objetivo - O Estudo de Capabilidade (ou Cp e Cpk) é um conjunto de cálculos utilizados para avaliar se um sistema é estatisticamente capaz de atender a um conjunto de especificações ou requisitos. Para completar os cálculos, é necessário um conjunto de dados, geralmente gerado por um gráfico de controle.
Acesso - APQP / PPAP (duplo click na primeira coluna de Estudos Iniciais do Processo)
Estudo: Data que foi realizado o estudo.
Nº Medições: Número de medições realizadas.
PPAP: Número seqüencial do PPAP.
Produto: Código do produto do PPAP.
Característica: Característica do produto que será feito o estudo.
Nominal: Medição nominal da Característica.
+: Máximo da medição permitido.
-: Mínimo da medição permitido.
Desenho: Número do desenho enviado pelo cliente.
Data: Data do desenho do produto.
Rev.: Revisão do desenho do produto.
Responsável: Responsável pelo Estudo de Capabilidade.
Observação: Observações gerais do Estudo de Capabilidade.
Aba Medições:
Nº.: Número da medição;
Amostra(x): Medição encontrada (1 a 5).
Médias: Médias das medições encontradas.
Amplitudes: Amplitudes das medições encontradas.
Aba Resultados:
Informações das Amostras
LIE: Limite inferior da especificação.
LSE: Limite superior da especificação.
X (X barra barra): Média das medições do processo.
R (R barra): Média das amplitudes.
Tol +: Tolerância maior da característica.
Tol -: Tolerância menor da característica.
Amplitude Maior: Maior amplitude encontrada.
Amplitude Menor: Menor amplitude encontrada.
Cartas de Médias e de Amplitudes
LIC: Limite inferior de controle.
LSC: Limite superior de controle.
Nº de pontos fora de controle: Número de medições que ficaram fora do especificado.
Laudo
Laudo: Laudo do Estudo de Capabilidade. APROVADO ou REPROVADO.
Capabilidade
Desvio Padrão: Desvio padrão da distribuição das médias
CP: Conhecido como Capabilidade de Máquina. Definido como o intervalo de tolerância dividido pela capabilidade do processo, ou seja, 6 vezes o desvio padrão estimado considerando a ausência de causas especiais. Ele é independente da centralização do processo o desvio padrão é estimado considerando processos estáveis.
CR: É o inverso de Cp. É igual a 1/Cp.
CPK: É o índice que leva em conta a centralização do processo e é definido como o mínimo entre CPU e CPL.
Superior de Capabilidade (CPU): Variação superior da tolerância dividida por 3 vezes o desvio padrão estimado pela capabilidade do processo.
Inferior de Capabilidade (CPL): Variação inferior da tolerância dividida pela dispersão superior real do processo.
Performance
Desvio Padrão: Desvio padrão da distribuição das amplitudes
PP: Intervalo de tolerância dividida pelo desempenho do processo, ou seja, pelo desvio padrão estimado pelas leituras individuais. Também independentemente da centralização.
PR: É o inverso de Pp. É igual a 1/PP;
PPK: É o índice que leva em conta o desempenho do processo e é definido como o mínimo entre PPU e PPL.
Superior de Desempenho (PPU): Variação superior do desempenho dividido por 3 vezes o desvio padrão estimado pela capabilidade do processo.
Inferior de Desempenho (PPL): Variação inferior do desempenho dividido pela dispersão superior real do processo.
Aba Médias:
Aba Amplitudes:
Aba Histograma:
Botões
Acesso a pasta
GED (Gestão Eletrônica de
Documentos) para armazenar documentos relativos
a este recebimento.
Abre
o arquivo com o desenho do produto.
Imprime relatório do Estudo de Capabilidade.
Encerra o Estudo de Capabilidade.
Reabre o Estudo de Capabilidade.
Incluir
registro: Para incluir um novo registro clique
em adicionar
posteriormente, preencher os campos e clicar em salvar
.
Para mais informações sobre as operações básicas do G-Quality, entre nos
conceitos básicos.